功率測試儀使?氙燈作(zuò)為(wéi)穩態光源，可於晶硅、鈣鈦礦與疊層(céng)電池?及(jí)其相應的組件(jiàn)的IV測試。設備主要配置有光源控制系(xì)統(tǒng)、電源控制系(xì)統(tǒng) 、測試系(xì)統(tǒng)、恆溫系(xì)統(tǒng) 、紅(hóng)外(wài)測溫探頭、參考電池、計算機、顯(xiǎn)示器等。

更(gèng)新時間(jiān)：2025-11-07

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產品(pǐn)介紹

功率測試儀使?氙燈作(zuò)為(wéi)穩態光源，可於晶硅、鈣鈦礦與疊層(céng)電池?及(jí)其相應的組件(jiàn)的IV測試。設備主要配置有光源控制系(xì)統(tǒng)、電源控制系(xì)統(tǒng) 、測試系(xì)統(tǒng) 、恆溫系(xì)統(tǒng) 、紅(hóng)外(wài)測溫探頭、參考電池、計算機、顯(xiǎn)示器等。

設備可以(yǐ)實現標(biāo)配I-V、V-I掃(sǎo)描?式，具備MPPT（最?功率點追(zhuī)蹤）、I-t（定(dìng)電壓）等多種(zhǒng)測試技術。可獲(huò)取I-V曲線(sī)，P-V曲線(sī)，輻照度(dù)曲線(sī)，短路電流，開路電壓，峰值功率，峰值功率點電壓、電流，定(dìng)電壓點電流，填充因? ，轉換效率，串聯電阻，並(bìng)聯電阻等測試參數(shù) 。

功率測試儀產品(pǐn)參數(shù)

適(shì)配標(biāo)准(zhǔn)	IEC60904-9:2020


光源類型	氙燈穩態光源


冷卻方式	定(dìng)制風冷


光源壽命	＞1000h


光譜範圍	300-1200nm


光源等級(jí)	1.光譜匹配度(dù) 0.875-1.125 A+ 2.輻照度(dù)不(bù)均(jūn)勻度(dù) ≤2% A 3.輻照度(dù)不(bù)穩定(dìng)度(dù) ≤1% A+




輻照度(dù)範圍	200W/㎡~1200W/㎡


測試面積	1.200200mm ；2.240240mm ；3.300300mm ；4.320320mm ；5.可定(dìng)制其他尺寸




測試模式	穩態測試模式可自由設定(dìng)由1s到(dào)連續照光


多通道設計	可實現36通道同(tóng)時測試，通道數(shù)量可定(dìng)制


測試技術	標(biāo)配I-V 、V-I掃(sǎo)描方式，具備MPPT（最大功率點追(zhuī)蹤）、I-t（定(dìng)電壓）等多種(zhǒng)測試技術，可通過軟(ruǎn)件(jiàn)切換，同(tóng)時集成(chéng)逐點掃(sǎo)描方式（滿足最短≤0.2s步進的掃(sǎo)描方式）


測試電池	多晶、單(dān)晶、Topcon 、BC 、異質結、CIGS 、GaAs、CdTe 、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層(céng)等


可增配項(xiàng)	1.集成(chéng)溫控系(xì)統(tǒng) ，實現溫度(dù)系(xì)數(shù)測試 2.集成(chéng)EL測試系(xì)統(tǒng) ，實現同(tóng)工位IV/EL測試 3.可定(dìng)制0BB測試工裝、鈣鈦礦適(shì)配工裝 4.集成(chéng)IR紅(hóng)外(wài)熱像儀，實現熱斑測試 5.手套箱（米開羅那）

適(shì)配標(biāo)准(zhǔn) Standard	IEC60904-9:2020	IEC60904-9:2020
光源類型 Light type	氙燈穩態光源	Xenon Lamp
冷卻方式 Cooling	定(dìng)制風冷	Forced air cooling
光源壽命 Light source lifetime	＞1000h	＞1000h
光譜範圍 Spectrum wavelength	300-1200nm	300-1200nm
光源等級(jí) Classfication of light source	光譜匹配度(dù) 0.875-1.125 A+ 輻照度(dù)不(bù)均(jūn)勻度(dù) ≤2% A 輻照度(dù)不(bù)穩定(dìng)度(dù) ≤1% A+	Spectral match is 0.875-1.125 , class A+ Irradiance non-uniformity is ≤2%, class A Irradiance instability is ≤1%, class A+
輻照度(dù)範圍 Irradiance intensity	200W/㎡~1200W/㎡	200W/㎡~1200W/㎡
測試面積 Illumination area	 200200mm 240240mm  300300mm 320320mm  可定(dìng)制其他尺寸	 200200mm 240240mm  300300mm 320320mm  Other size can be customized
測試模式 Test mode	穩態測試模式可自由設定(dìng)由1s到(dào)連續照光	Under steady-state mode, it can be set freely from 1s to continuous illumination. Besides
多通道設計 Multi-channel testing design	可實現36通道同(tóng)時測試，通道數(shù)量可定(dìng)制	36 channels can be tested simultaneously, and the number of channels can be customized
測試技術 Testing technology	標(biāo)配I-V 、V-I掃(sǎo)描方式，具備MPPT（最大功率點追(zhuī)蹤）、I-t（定(dìng)電壓）等多種(zhǒng)測試技術，可通過軟(ruǎn)件(jiàn)切換，同(tóng)時集成(chéng)逐點掃(sǎo)描方式（滿足最短≤0.2s步進的掃(sǎo)描方式）	It equipped with I-V , V-I scanning, MPPT (maximum power point tracking) , I-t (constant voltage) and other test technologies , all these technologies can be switched by software. It also equipped point-by-point scanning ( meet the shortest scanning in step of ≤0.2s
測試電池 Measurable cell type	多晶、單(dān)晶、Topcon 、BC 、異質結、CIGS 、GaAs 、CdTe、鈣鈦礦、鈣鈦礦疊層(céng)等	Poly-crystalline , Mono-crystalline, TopCon, HJT, BC,CIGS , GaAs , CdTe and Perovskite
可增配項(xiàng) Optional service	 集成(chéng)溫控系(xì)統(tǒng) ，實現溫度(dù)系(xì)數(shù)測試  集成(chéng)EL測試系(xì)統(tǒng)，實現同(tóng)工位IV/EL測試  可定(dìng)制0BB測試工裝、鈣鈦礦適(shì)配工裝  集成(chéng)IR紅(hóng)外(wài)熱像儀，實現熱斑測試  手套箱（米開羅那）	 Temperature Chamber can be integrated to achieve measurement of temperature coefficient  EL testing system can achieve IV and EL testing at a same production section  Jigs for 0BB cells and perovskite can be customized.  Integrated with IR infrared thermal imager to realize heat spot testing  Glove box（MIKROUNA）